تشخیص اندازه ذرات از طریق تجزیه و تحلیل تصویر بر اساس آشکارسازی لبه
- سال انتشار: 1402
- محل انتشار: هفتمین کنفرانس ملی پژوهشهای کاربردی در مهندسی برق، مکانیک و مکاترونیک
- کد COI اختصاصی: ELEMECHCONF07_083
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 269
نویسندگان
دانشگاه آزاد اسلامی، علوم و تحقیقات
چکیده
برای به دست آوردن اندازه نانوذرات، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) به طور گسترده ای مورد استفاده قرار گرفتند، اما اندازه گیری دستی توزیع اندازه آماری از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی به میکروسکوپ الکترونی عبوری وقت گیر بوده و نیاز به کار زیادی دارد. بنابراین، روش های آشکارسازی خودکار در اینجا مطلوب هستند. این مقاله یک الگوریتم پردازش تصویر که عمدتا بر اساس آشکارسازی کنی و تغییر دایره ای اصلاح شده هاف است، پیشنهاد می کند. الگوریتم پیشنهادی می تواند آستانه های محلی را برای تشخیص ذرات از تصاویر با درجات پیچیدگی مختلف به کار بگیرد/ در مقایسه با نتایج به دست آمده از اعمال آستانه های جهانی، الگوریتم ما عملکرد بسیار بهتری دارد. استحکام و اعتبار این روش با مقایسه نتایج آن با اندازه گیری دستی تایید شده است و توافق بسیار عالی به دست آمد. روش پیشنهادی می تواند ذرات با راندمان بالا را به دقت تشخیص دهد.کلیدواژه ها
کلید واژه ها: آشکارسازی لبه کنی تطبیقی و محلی، تبدیل دایره ای اصلاح شده هاف، توزیع اندازه ذرات، پردازش تصویراطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.