بررسی اثر نواقص به صورت متقارن و نامتقارن بر روی خواص الکترونیکی گرافن با استفاده از نظریه تابعی چگالی

  • سال انتشار: 1401
  • محل انتشار: دومین کنفرانس ملی پیشرفت های فناورانه در فیزیک کاربردی
  • کد COI اختصاصی: TAAPY02_024
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 287
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

نازنین محسنی نیا

دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان،۳۵۱۳۱-۱۹۱۱۱، ایران

حمیدرضا قلی پور دیزجی

دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ۳۵۱۳۱-۱۹۱۱۱، ایران

نفیسه معماریان

دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ۳۵۱۳۱-۱۹۱۱۱، ایران

چکیده

اساس این پژوهش بر پایه ی بررسی خواص الکترونیکی سیستم با ایجاد دو تهی جا بر روی سطح گرافن در حالتهای متقارن و نامتقارن در چارچوب نظریه تابعی چگالی و نرم افزار کوانتوم اسپرسو قرار گرفته است. نتایج نشان داد، ایجاد نقص همراه با برهم خوردن تقارن نسبت به حالت متقارن سیستم، از تاثیر عمده ای بر افزایش گاف نواری و تغییر خواص الکترونی سیستم برخوردار است.

کلیدواژه ها

خواص الکترونیکی، تهی جا، نظریه تابعی چگالی، کوانتوم اسپرسو، گاف نواری

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.