تاثیر دمای بستر بر ویژگی های ساختاری، نوری، الکتریکی و ریخت شناسی لایه های نازک اکسید روی
- سال انتشار: 1401
- محل انتشار: مجله پژوهش فیزیک ایران، دوره: 22، شماره: 3
- کد COI اختصاصی: JR_PSI-22-3_017
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 104
نویسندگان
گروه علوم مواد، دانشکده علوم، دانشگاه بیسکرا، الجزایر
گروه علوم مواد، دانشکده علوم، دانشگاه بیسکرا، الجزایر
گروه فیزیک، دانشکده علوم ماده، دانشگاه تیارت، الجزایر آزمایشگاه میکرو و نانوفیزیک (LaMiN)، دانشکده ملی پلی تکنیک اوران (ENPO)، اوران، الجزایر
گروه زیست شناسی، دانشکده علوم، دانشگاه حمه لخضر، الوادی، الجزایر
چکیده
مقاله حاضر تاثیر دمای بستر را بر ویژگی های فیزیکی لایه های نازک اکسید روی (ZnO) رسوب شده با استفاده از روش افشانه پیرولیز گزارش می کند. این لایه ها ماهیتی بس بلوری با جهت گیری ترجیحی در امتداد [۰۰۲] نشان می دهند. علاوه بر این، اندازه متوسط بلورک ها با افزایش دمای بستر افزایش می یابد. نتایج میکروسکوپ الکترونی روبشی نشان داد که لایه ها به طور یکنواخت و همگن توزیع شده اند. میانگین عبور اپتیکی، بسته به دمای بستر، بین ۶۲ تا ۹۰ درصد متغیر است. از طرف دیگر، با افزایش دمای بستر، ضریب جذب کاهش می یابد و گاف نواری اپتیکی در محدوده ۳٫۲۵ – ۳٫۲۸ الکترون ولت تغییر می کند. رسانش الکتریکی لایه ها نیز بین (mS.cm-۱) ۱۸ تا ۵۸ متغیر است.کلیدواژه ها
لایه های نازک ZnO, دمای بستر, اسپری پیرولیز, ریخت شناسی, گاف نواری اپتیکی, رسانش الکتریکیاطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.