بررسی تاثیر آلایشهای Halo,Retrograde LDD بر ولتاژ آستانه و اثر کانال کوتاه PMOSدر ترانزیستور ۹۰ نانومتری(DIBL)
- سال انتشار: 1401
- محل انتشار: کنفرانس بین المللی پژوهش ها و فناوری های نوین در مهندسی برق
- کد COI اختصاصی: ICNRTEE01_022
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 460
نویسندگان
مهندسی برق،دانشکده فنی ومهندسی، دانشگاه رازی ، کرمانشاه،ایران
گروه مهندسی برق ،استادیار دانشگاه رازی، کرمانشاه، ایران
چکیده
با تغییر مقیاس دادن در ترانزیستورها به علت دست یافتن به عملکرد بهتر و همچنین کم شدن هزینه ساخت آثار کانال کوتاه باعث اختلال در عملکرد افزاره میشوند به همین دلیل در این مقاله به ارزیابی یک ترانزیستور ماسفت نوع P با طول کانال ۹۰ نانومتر می پردازیم نشان می دهیم که با بررسی تغییرات ناخالصی در آلایشهای هاله گون Halo و LDD و Retrograde می توانیم تاثیرات کانال کوتاه را در ترانزیستور ماسفت بهبودببخشیمکلیدواژه ها
آلایش ،ترانزیستور PMOS ، کانال کوتاه ،نرخ داپینگمقالات مرتبط جدید
- Adaptive Control Strategies for Fast Charging of EVs with Battery Degradation Mitigation
- شناسایی مانع با استفاده از دید استریو برای خودروهای بدون سرنشین
- Multi-Gbest Decomposition for Many-Objective Optimization
- ترکیب منابع انرژی پیزوالکتریک و ترموالکتریک به منظور افزایش کارایی سیستم های برداشت انرژی
- کاربرد نگاشت های GAF و MTF در تشخیص خرابی تجهیزات دوار با شبکه DenseNet
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.