X-ray characterization of nanocrystalline ceria
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: دومین کنگره بین المللی علوم و فناوری نانو
- کد COI اختصاصی: ICNN02_666
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 927
نویسندگان
Department of Physics, Iran University of Science and Technology, Narmak, ۱۶۸۴۴ Teheran
چکیده
X-ray line profile analysis has been carried out to characterize the microstructure of polycrystalline cerium oxide. In order to determine the average coherent scattering domain size and dislocation density two techniques, namely modified Williamson-Hall and modified Warren-Averbach were employed. Modified Williamson-Hall plot provides the volume-weighted domain size < DV> =21.3(2) nm. Modified Warren-Averbach gives the area- weighted domain size < DA> =18.8(1) nm, the average dislocation density (assuming 50% edge and 50% screw dislocation) ρ=3.3(7)×1016m-2 and effective cut-off radius of dislocation, Re=23.1(4) nmکلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.