X-ray characterization of nanocrystalline ceria
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: دومین کنگره بین المللی علوم و فناوری نانو
- کد COI اختصاصی: ICNN02_666
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 951
نویسندگان
Department of Physics, Iran University of Science and Technology, Narmak, ۱۶۸۴۴ Teheran
چکیده
X-ray line profile analysis has been carried out to characterize the microstructure of polycrystalline cerium oxide. In order to determine the average coherent scattering domain size and dislocation density two techniques, namely modified Williamson-Hall and modified Warren-Averbach were employed. Modified Williamson-Hall plot provides the volume-weighted domain size < DV> =21.3(2) nm. Modified Warren-Averbach gives the area- weighted domain size < DA> =18.8(1) nm, the average dislocation density (assuming 50% edge and 50% screw dislocation) ρ=3.3(7)×1016m-2 and effective cut-off radius of dislocation, Re=23.1(4) nmکلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
- تحلیل دینامیکی تغییر شرایط دمایی در راه اندازی سرد بویلر نوع D فولاد مبارکه
- بررسی تاثیر شرایط تولید و ذخیره سازی بر رفتار اکسیداسیون مجدد آهن اسفنجی (DRI) و آهن بریکت گرم (HBI)
- بررسی امکان سنجی احیاء هیدروژنی نمونه باطله آهندار هماتیتی (مطالعه موردی باطله هماتیتی معادن گل گهر سیرجان)
- پیش بینی عملکرد فرآیند احیا مستقیم تولید آهن اسفنجی در شرایط مختلف عملیاتی و تعیین عملکرد مطلوب از طریق مدل سازی با نرم افزار Aspen Plus
- بررسی تاثیر تغییر مکانیزم و تعداد پره های دمپر فن سیستم غبارگیر اسکرین اکساید بر عملکرد آن در شرکت فولاد کاوه جنوب کیش
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.