Numerical Modeling of Nanowire Interconnects
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: دومین کنگره بین المللی علوم و فناوری نانو
- کد COI اختصاصی: ICNN02_417
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 626
نویسندگان
Nanoelectronic centre of excellence, VLSI laboratory, School of ECE, Tehran University
Nanoelectronic centre of excellence, Device laboratory, School of ECE, Tehran University
چکیده
Interconnects play a critical role in determining system performance and reliability in today’s integrated circuits (ICs) where dimensions are scaled into nanometre regime and operating frequencies range in gigahertz. Nanowires provide promising characteristics for future interconnect. In this paper we propose a new approach to investigate interconnect parameters for nanowire interconnects which are becoming more promising in the future. The interconnect resistance and coupling capacitance plays an important role in determining the delay and coupling effects of the circuit. Nanowire interconnects are studied numerically using quantum transport simulation approach. We begin by assuming ballistic transport which gives the upper performance limit of the devices. The use of a mode space approach produces high computational efficiency that makes our simulation practical for extensive device simulation and designکلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.