Nanoscale Design Take on Test Access Problems
- سال انتشار: 1387
- محل انتشار: دومین کنگره بین المللی علوم و فناوری نانو
- کد COI اختصاصی: ICNN02_401
- زبان مقاله: انگلیسی
- تعداد مشاهده: 804
نویسندگان
Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, University of Guilan P. O. Box: ۳۷۵۶
چکیده
The silicon-scaling revolution is quite real and persistent. The bizarre vagaries of nanoscale technologies put a heavy burden on the test community, as scaling beyond 45 nanometers greatly extends process complexity and exacerbates leakage faults and soft errors. So, a test engineer faces serious test accessibility problems.This paper presents test access problems in nanoscale designs and introduces the future tendencies in this area. The sequel of this paper is as follows: The nanoscale design and test requirements have been introduced, then, test accessibility problems and the future trends in nanoscale designs have been presented. The paper is concluded in the final section.کلیدواژه ها
مقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.