افزایش ولتاژ شکست و کاهش اثر خودگرمایی در افزاره ی SOI-LDMOS

  • سال انتشار: 1391
  • محل انتشار: بیستمین کنفرانس مهندسی برق ایران
  • کد COI اختصاصی: ICEE20_421
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 1582
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

محبوبه نصیری فر

دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک

علیرضا مجاب

دانشگاه تهران

مرتضی فتحی پور

دانشگاه تهران

چکیده

در این مقاله ابتدا به بررسی شبیه سازی عددی افزاره ی SOI-LDMOS می پردازیم. سپس با استفاده از تکنیک اکسید مدفوندوگانه، نشان خواهیم داد که ولتاژ شکست این افزاره نسبت به افزاره ی مرسومSOI-LDMOSبا اکسید مدفون سرتاسری، حدود 21/64 درصد افزایش می یابد. همچنین با استفاده از این تکنیک، اثر خودگرمایی به میزان 28/36درصد کاهش می یابد. مزیت روش پیشنهادی این است که جریان نشتی و فرکانس قطع افزاره تغییر چندانی نمی یابد

کلیدواژه ها

افزاره ی - SOI-LDMOS ، افزاره ی SOI-LDMOS با اکسید دوگانه، خودگرمایی، فرکانس قطع، ولتاژ شکست

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.