بررسی ضریب شکست خطی در یک نقطه ی کوانتومی سه ترازی با پیکربندی V تحتاثرات میدان مغناطیسی و برهمکنش اسپین مدار
- سال انتشار: 1401
- محل انتشار: بیست و دومین کنفرانس بین المللی پژوهش های نوین در علوم و فناوری
- کد COI اختصاصی: EMAA22_068
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 138
نویسندگان
کارشناسی ارشد فیزیک دانشگاه ولی عصر رفسنجان
استاد تمام فیزیک دانشگاه ولی عصر رفسنجان
چکیده
در این مقاله، ضریب شکست خطی در یک نقطه یکوانتومی سه ترازی مدل V با پتانسیل سهموی تحت شفافیت القایی الکترومغناطیسی با در نظر گرفتن میدان مغناطیسی خارجی و برهمکنش اسپین مدار مورد بررسی قرار گرفته است. ضریب شکست خطی با تغییر میدان مغناطیسی، میدان لیزر کنترل و ارتفاع نقطهی کوانتومی استوانه ای همچنین با فرض اثر اسپن مدار تغییر میکند.کلیدواژه ها
میدان مغناطیسی، شفافیت القایی الکترومغناطیسی، ضریب شکست خطیمقالات مرتبط جدید
- تحلیل وبهینه سازی هزینه مصرف انرژی ایستگاه پمپاژ آبرسانی با رویکرد هزینه های دوره عمرپمپ
- بررسی تاثیر نانو ذرات ایتریوم اکسید بر امپدانس بتن
- بررسی تطبیقی خلاصه الزامات آیین نامه FDA QSR ۲۱ CFR ۸۲۰ و استاندارد بین المللی ISO ۱۳۴۸۵:۲۰۱۶
- واکاوی تاثیر روش تدریس فعال و اکتشافی و خلاقیت در تدریس درس ریاضی بر روند تحصیل دانش آموزان
- طراحی و پیاده سازی یک سیستم ارزیای سلامت بر پایه اکسیژن خون و دمای بدن
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.