تاثیر ناخالصی Sn2+بربافت مرفولوژی وجوانه زنی پوشش روی الکترولیتی
- سال انتشار: 1386
- محل انتشار: اولین همایش مشترک انجمن مهندسین متالورژی و انجمن ریخته گری ایران
- کد COI اختصاصی: IMES01_359
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 855
نویسندگان
دانشجوی کارشناسی ارشد مهندس یمواد
استادیار دانشگاه صنعتیاصفهان
استاد دانشگاه صنعت ی اصفهان
چکیده
دراین تحقیق به منظور پوشش دهی روی درسطح زیرلایه فولاد کم کربن پولیش الکتریکی و مکانیکی شده از دانسیته جریانهای mA/cm2) 100 و10 و 200 استفاده شد مرفولوژی و بافت پولیش الکتریکی روی حاصل از حمام سولفاتی شامل 10ppm ناخالصی Sn2+ توسط آنایلز تفرق اشعه ایکس XRD و میکروسکوپ الکترونی روبشی sEM مورد مطالعه قرارگرفت نتایج نشان داد که مرفولوژی و بافت رسوب روی تحت تاثیر افزودنی Sn2+ آماده سازی سطح و دانسیته جریان قرار میگیرند بطوریکه برروی سطوح پولیش الکتریکی شده مولفه بافت غالب 00.2 بوده و مرفولوژی سطحی رسوبات به شکل لایه ای متراکم مشاهده شد درحالیکه درسطوح آماده سازی شده به روش مکانیکی صفحات هرمی کم زاویه {11 .4}) {10 .3} {10 .4}و صفحه منشوری 11.0 مولفه غالب بافت بودند و مرفولوژی رسوبات مشاهده شده بصورت اسفنجی بود مطالعات مدل جوانه زنی رسوبات توسط مدل Scharifker درشرایط مختلف بررسی شد ارتباط بین جوانه زنی بافت و مرفولوژی رسوبات روی تحت تاثیر ناخالصی sn2+ مورد مطالعه و بحث قرارگرفت.کلیدواژه ها
پوشش روی، ناخالصی قلع، بافت، مرفولوژی، مدل جوانه زنیمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.