رضا امیدی قوشه بلاغ - علم و صنعت ایران - مهندسی برق
کریم محمدی

یکی از خطاهای شایع در سیستم های ماهواره ای رخداد خطای واژگونی بیت (SEU) در بخش های الکترونیکی است. با توجه به هزینه بالای طراحی، پیاده سازی و پرتاب ماهواره ها، برای مقابله با این اثر نامطلوب در سطوح گوناگون و به روش های مختلف تکنیک های مقاوم سازی استفاده می شود. یکی از مهمترین معیارهای پذیرش این روش ها، درجه قابلیت اطمینان آنهاست. تعیین نرخ خرابی SEUفاکتور بسیار مهمی در تحلیل قابلیت اطمینان سیستم تحت این شرایط است. بر مبنای نرخ SEUعلاوه بر تعیین قابلیت اطمینان، الزامات برخی روش های مقاوم سازی نیز مشخص می گردد. یکی از عملی ترین روش ها جهت محاسبه SEUهای ناشی از پروتون ها عبارت است از اندازه گیری سطح مقطع موثر SEUدر یک انرژی مشخص پروتون و سپس استفاده از روش ارائه شده توسط ویبال برای پیداکردن نرخ SEUدر هر محیط پروتونی. در این مقاله برای ماهواره های واقع در سطح LEOو به طور خاص دو ماهواره ملی امید و رصد، با بررسی و مدل سازی مداری و با لحاظ کردن اثر شیلد، نرخ دوز یونیزه جمع شونده و آهنگ رخداد SEUطبق روش ویبال تعیین شده است. همچنین با تعیین چگالی پروتون های عرضه شده بر ماهواره، نرخ واقعی SEUو نرخ متغیر با زمان آنتعیین و بر مبنای آن زمان بازیابی بخش های حساس نسبت به واژگونی بیت ارائه شده است.

تشعشعات فضایی, مقاوم­سازی, نرخ SEU, ماهواره ارتفاع پایین