Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی

فصلنامه روش های هوشمند در صنعت برق، دوره: 13، شماره: 50
سال انتشار: 1401
کد COI مقاله: JR_JIPET-13-50_008
زبان مقاله: فارسیمشاهده این مقاله: 81
فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 12 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی

محسن کاتبی جهرمی - گروه مهندسی برق- واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران
رحیم غیور - گروه مهندسی برق- واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران
زهرا عادل پور - گروه مهندسی برق- واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران

چکیده مقاله:

یکی از پیشرفت­های مهم سال­های اخیر در دستگاه رامان، تلفیق آن با میکروسکوپ پروب روبشی(SPM)  به­­خصوص میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) بوده ­است. میکروسکوپ نیروی اتمی در حال حاضر به­عنوان یکی از بهترین روش­های تصویر­برداری برای مطالعه توزیع ناهمگون سطح در ابعاد نانو شناخته می­شود. در سال­های اخیر دانشمندان بر روی به­دست آوردن فاکتور تقویت میدان الکتریکی بیشتر متمرکز شده­اند تا آنجا که آشکارسازی و نقشه­برداری از یک مولکول تنها با این روش امکان­پذیر شده است. در نتیجه رزولوشن فضایی جهت تشخیص در مقیاس زیر ­مولکول ­­­در حال بهبود است. در این مقاله با استفاده از روش محاسباتی تفاضلی محدود در حوزه زمان(FDTD)  اثر تغییر پارامترهای پروب مثل زاویه مخروط، شعاع تیپ و جنس آن بر میزان شدت میدان الکتریکی نزدیک به نوک پروب مورد بررسی قرار گرفته ­است. در نهایت­­­­ ­­­پس از یافتن بهترین ساختار تیپ و نوع پلاریزاسیون نور تابشی، اثر استفاده از زیر­لایه در سیستم طیف­سنجی رامان تقویت­ شده سوزنی(TERS) پیشنهادی بررسی شده است. نتایج شبیه­سازی­­­­­ها نشان می­دهد که با توجه به ابعاد تیپ انتخاب شده از بین زاویه­های مخروط بررسی شده زاویه مخروط ۳۰ درجه بیشترین میزان تقویت میدان الکتریکی در نوک تیپ را ایجاد می­کند. همچنین به­کار بردن منبع نور تابشی با پلاریزاسیون دایره­ای و استفاده از زیرلایه از عوامل بسیار موثر جهت بهبود فاکتور تقویت میدان الکتریکی هستند. در انتها برای ساختار طراحی شده ماکزیمم مقدار فاکتور تقویت میدان الکتریکی ۱۰۴×۲/۳ به­دست آمده است، که این مقدار در مقایسه با نتایج گزارش شده در مطالعات قبلی بهبود قابل توجه داشته­ است.

کلیدواژه ها:

تشدید پلاسمون های سطحی محلی ، طیف سنجی رامان تقویت شده سوزنی ، نوک تیپ ، میکروسکوپ نیروی اتمی

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا JR_JIPET-13-50_008 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/1289359/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
کاتبی جهرمی، محسن و غیور، رحیم و عادل پور، زهرا،1401،شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی،https://civilica.com/doc/1289359

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1401، کاتبی جهرمی، محسن؛ رحیم غیور و زهرا عادل پور)
برای بار دوم به بعد: (1401، کاتبی جهرمی؛ غیور و عادل پور)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • Schmitt, J. Popp, “Raman spectroscopy at the beginning of the ...
  • Gao, W. Lin, J. Wang, R. Wang, J. Wang, “Principle ...
  • F. Shao, R. Zenobi, “Tip-enhanced raman spectroscopy: Principles, practice, and ...
  • Shen, X. Zi, M. Du, L. Zhang, Y. Shen, M. ...
  • Mauser, A. Hartschuh, “Tip-enhanced near-field optical microscopy”, Chemical Society Reviews, ...
  • Petry, N.C. Oliveira, A.C. Alves, A.G.S. Filho, D.S.T. Martinez, G. ...
  • Kumar, S. Mignuzzi, W. Su, D. Roy, “Tip enhanced Raman ...
  • Kazemi-Zanjani, S. Vedraine, F. Lagugné-Labarthet, “Localized enhancement of electric field ...
  • Najjar, D. Talaga, L. Schue, Y. Coffinier, S. Szunerits, R. ...
  • Wang, D. Zhang, K. Braun, H. J. Egelhaaf, C.J. Brabec, ...
  • Lee, R. D. Hartschuh, D. Mehtani, A. Kisliuk, J.F. Maguire, ...
  • Okuno, Y. Saito, S. Kawata, P. Verma, “Tip-enhanced Raman investigation ...
  • Su, D. Roy, “Visualizing graphene edges using tip-enhanced Raman spectroscopy”, ...
  • Zhang, Y. Zhang, Z.C. Dong, S. Jiang, C. Zhang, L.G. ...
  • Huang, M. Bates, X.W. Zhuang, “Super-resolution fluorescence microscopy”, Annual Review ...
  • Kumar, B.M. Weckhuysen, A.J. Wain, A.J. Pollard, “Nanoscale chemical imaging ...
  • Kim, C. Lee, B.G. Jeong, S.H. Kim, M.S. Jeong, “Fabrication ...
  • Lu, W. Zhang, J. Zhang, M. Liu, L. Zhang, T. ...
  • Yang, J. Aizpurua, X. Hongxing, “Electromagnetic field enhancement in TERS ...
  • Y. Meng, T.X. Huang, X. Wang, S. Chen, Z.L. Yang, ...
  • Bruzzone, M. Malvaldi, G.P. Arrighini, C. Guidotti, “Theoretical study of ...
  • S. Kunz, R.J. Luebbers, “The finite difference time domain method ...
  • Yee, “Numerical solution of initial boundary value problems involving Maxwell's ...
  • M. Sullivan, “Electromagnetic simulation using the FDTD method”, ۲th Edition, ...
  • Monsefi, M. Otterskog, S. Silvestrov, “Direct and inverse computational methods ...
  • B. Johnson, R.W. Christy, “Optical constants of the noble metals”, ...
  • Zhan, “Cylindrical vector beams: from mathematical concepts to applications”, Advances ...
  • Richards, E. Wolf, “Electromagnetic diffraction in optical systems. II. Structure ...
  • Youngworth, T. Brown, “Focusing of high numerical aperture cylindrical-vector beams”, ...
  • M. Sartin, H. Su, X. Wang, B. Rena, “Tip-enhanced Raman ...

مدیریت اطلاعات پژوهشی

صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
نوع مرکز: دانشگاه آزاد
تعداد مقالات: 7,442
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

پشتیبانی