ارزیابی کارایی تست ضدتصادفی در تشخیص اشکالات سیستمهای خود آزمایش داخلی
- سال انتشار: 1383
- محل انتشار: دهمین کنفرانس سالانه انجمن کامپیوتر ایران
- کد COI اختصاصی: ACCSI10_056
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 910
نویسندگان
گروه کامپیوتر دانشکده فنی مهندسی دانشگاه اصفهان
چکیده
مساله تست مدارهای دیجیتال و آزمایش صحت کارکرد آنها خصوصا درمدارهای مجتمع با اندازه بسیار وسیع VLSI از اهمیت بسیاری برخوردار است دراین مقاله طول تستمربوطه به نمونه های ضدتصادفی برای N بار تشخیص اشکالات موجود در مدارهای VLSI تحلیل گردیده و با کمک تکنولوژی خودآزمایش داخلی BIST مورد ارزیابی و اندازه گیری قرارگرفته است سپس این شیوه تست روی مدار سنجش ISCAS85C432 شبیه سازی شده و نتایج ان با محاسبات انجام گرفته مقایسه شده است.کلیدواژه ها
آزمون مدارهای مجتمع، آزمون ضدتصادفی، آزمون شبه تصادفی، فاصله همینگ، فاصله کارتزینمقالات مرتبط جدید
- سیستم تشخیص نفوذ در محیط رایانش ابری با استفاده از یادگیری ویژ گی
- کاهش هزینه تعمیراتی ماشین های سنگین از طریق بهبود الگوریتم درخت تصمیم با الگوریتم های انتخاب ویژگی Information Gain ،Correlation و SVM
- پردازش کوانتومی تصاویر پزشکی و تشخیص لبه آن با استفاده از الگوریتم QHED
- بررسی و مقایسه روشهای تشخیص اکانت های جعلی در شبکه های اجتماعی
- مکان یابی و مقدار بهینه منابع تولید پراکنده به منظورکاهش تلفات و بهبود انحراف ولتاژ شبکه نامتعادل توزیع
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.