ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

Probabilistic Physics of Failure (PPOF) Reliability Analysis of RF-MEMS Switches under Uncertainty

سال انتشار: 1397
کد COI مقاله: JR_IJRRS-1-1_001
زبان مقاله: انگلیسیمشاهده این مقاله: 11
فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 10 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله Probabilistic Physics of Failure (PPOF) Reliability Analysis of RF-MEMS Switches under Uncertainty

Mohammad Pourgolmohamad - Sahand University of Technology
Minoo Mobasher Moghaddam - Sahand University of Technology
Morteza Soleimani - University of Bradford
Robab Aaghazadeh-chakherlou - Tehran Science and Research branch of Azad University

چکیده مقاله:

MEMS reliability analysis is a challenging area of research which comprises various physics of failure and diverse failure mechanisms. Reliability issues are critical in both design and fabrication phases of MEMS devices as their commercialization is still delayed by these problems. In this research, a hybrid methodology is developed for the reliability evaluation of MEMS devices. Its first step is the identification of dominant failure modes by FMEA, evaluation of failure mechanisms and an updated lifetime estimation by the Bayesian method. The reliability of MEMS devices is studied using probabilistic physics of failure (PPoF) by determining the dominant failure mechanism. Accordingly, a deterministic model is selected for the analysis of the life and reliability of the dominant failure mechanisms. To convert the deterministic model to a probabilistic model, the uncertainty sources affecting the dielectric lifetime are determined. This model is simulated by the utilization of the Monte Carlo method. In the final stage, the results of life estimation are updated using the Bayesian method. Considering wide application and advantages of RF MEMS capacitive switches, it has been selected as a case study. A framework is developed for reliability evaluation of these switches failures due to stiction mechanism. The results contain FMEA table, lifetime estimation in different voltages, number of duty cycles and at the end, updated results of life estimation using the Bayesian method.

کلیدواژه ها:

Bayesian updating, Dielectric charging, Probabilistic Model, Reliability evaluation, RF MEMS capacitive switches, Uncertainty

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا JR_IJRRS-1-1_001 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/1265555/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
Pourgolmohamad, Mohammad and Mobasher Moghaddam, Minoo and Soleimani, Morteza and Aaghazadeh-chakherlou, Robab,1397,Probabilistic Physics of Failure (PPOF) Reliability Analysis of RF-MEMS Switches under Uncertainty,https://civilica.com/doc/1265555

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1397, Pourgolmohamad, Mohammad؛ Minoo Mobasher Moghaddam and Morteza Soleimani and Robab Aaghazadeh-chakherlou)
برای بار دوم به بعد: (1397, Pourgolmohamad؛ Mobasher Moghaddam and Soleimani and Aaghazadeh-chakherlou)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • S. Shiri, M. Pourgol-Mohammad, M. Yazdani. Effect of strength dispersion ...
  • M. Yazdanipour, M. Pourgol-Mohammad, N. Choupani, M. Yazdani. Fatigue Life ...
  • S. Shiri, M. Pourgol-Mohammad, M. Yazdani. Prediction of Remaining Fatigue ...
  • S. Shiri, M. Pourgol-Mohammad, M. Yazdani. A Fatigue Damage Accumulation ...
  • M. Yazdanipour, M. Pourgol-Mohammad. Stochastic Fatigue Crack Growth Analysis of ...
  • H. Salimi, S. Kiad, M. Pourgol-Mohamad. Stochastic Fatigue Crack Growth ...
  • L. Naseh, M. Pourgol-Mohammad. Assessment of the Pitting Corrosion Degradation ...
  • Gabriel M. Rebeiz, RF MEMS - Theory, Design, and Technology, ...
  • Carmignani, G. An integrated structural framework to cost-based FMECA: The ...
  • [۱۰]Selim, H., Yunusoglu, M. G. &YılmazBalaman, Ş. A Dynamic Maintenance ...
  • W.M. Van Spengen, R. Puers, R. Mertens, I. De Wolf, ...
  • S. Melle, D. De Conto, D. Dubuc, K. Grenier, O. ...
  • S. Melle, D. De Conto, L. Mazenq, D. Dubuc, K. ...
  • R. Herfst, P. Steeneken, J. Schmitz, Time and voltage dependence ...
  • D. Mardivirin, A. Pothier, A. Crunteanu, B. Vialle, P. Blondy, ...
  • X. Yanet al., “Anelastic stress relaxation in gold films and ...
  • C. Palego et al., “Robustness of RF MEMS capacitive switches ...
  • C. Goldsmith et al., “Lifetime characterization of capacitive RF MEMS ...
  • [۲۱]Yaqiu Li, Yufeng Sun, Weiwei Hu, Zili Wang, “A novel ...
  • [۲۲]NegarTavassolian, MatroniKoutsoureli, George Papaioannou, and John Papapolymerou “Optimization of Dielectric ...
  • N. Torres Matabosch, F. Coccetti, M. Kaynak, B. Espana, B. ...
  • M. Lamhamdi, P. Pons, U. Zaghloul, L. Boudou, F. Coccetti, ...
  • [۲۵]Pourgol Mohammad M, MobasherMoghaddam M, Soleimani M. Hybrid Probabilistic Physics ...
  • [۲۶]Jamshidi, A., Rahimi, S. A., Ait-Kadi, D. & Ruiz, A. ...
  • M. Modarres, Risk Analysis in Engineering: Techniques, Tools, and Trends, ...
  • D. Kelly, C. Smith, Bayesian inference for probabilistic risk assessment: ...
  • G.M. Rebeiz, RF MEMS: theory, design, and technology, John Wiley ...
  • A. Jain, S. Palit, M.A. Alam, A physics-based predictive modeling ...
  • S. Palit, A. Jain, M.A. Alam, Universal scaling and intrinsic ...
  • H.S. Newman, RF MEMS switches and applications, in: Reliability Physics ...
  • I. De Wolf, W. Van Spengen, Techniques to study the ...
  • S. Melle, F. Flourens, D. Dubuc, K. Grenier, P. Pons, ...
  • G.M. Rebeiz, J.B. Muldavin, RF MEMS switches and switch circuits, ...
  • S. Palit, M.A. Alam, Theory of charging and charge transport ...
  • M.I. Younis, E.M. Abdel-Rahman, A. Nayfeh, “A reduced-order model for ...
  • [۳۹]Mathwork, “Matlab Simulation Software”,[۴۰]https://www.mathworks.com, ۲۰۱۸[۴۱] Winbugs Software, “Winbugs”, https://www.mrc-bsu.cam.ac.uk, ۲۰۱۸ ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 3,915
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی