حمیده شاهرودی - پژوهشکده فناوری نانو و مواد پیشرفته، پژوهشگاه مواد و انرژی، مشکین دشت، البرز، ایران
محمد رضا واعظی - پژوهشکده فناوری نانو و مواد پیشرفته، پژوهشگاه مواد و انرژی، مشکین دشت، البرز، ایران
اکبر اسحاقی - دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، شاهین شهر، اصفهان، ایران
اصغر کاظم زاده - پژوهشکده نیمههادیها، پژوهشگاه مواد و انرژی، مشکین دشت، البرز، ایران

در این پژوهش، فیلم نانوکامپوزیت فوق آبدوست شفاف PMMA-SiO۲ به روش غوطهوری روی زیرلایه شیشه ای اعمال گردید. سپس نمونهها در دماهای ۱۰۰ و ۵۰۰ درجه سلسیوس آنیل شدند. از میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی (FE-SEM)، طیف سنج پراش انرژی اشعه ایکس (EDS)، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، طیف سنج UV-VIS و تحلیلگر زاویه تماس آب، به­ترتیب برای بررسی مورفولوژی، درصد عناصر، زبری سطح، خواص نوری و آبدوستی نانوکامپوزیت استفاده شد. طیف عبور پوشش نشان داد که شفافیت زیرلایهی شیشه با فیلم نانوکامپوزیت PMMA-SiO۲ کاهش نیافت و بدون تغییر ماند. علاوه بر این، نتایج ترشوندگی برای نمونه های آنیل شده در دمای ۵۰۰ درجه سلسیوس، کاهش زاویه تماس زیرلایه را از ۱/۳۴ درجه به حدود صفر درجه نشان داد.

فوق آبدوست, پوشش, نانو کامپوزیت, سیلیکا