محسن محمدی - دانشجوی دکتری دانشگاه صنعتی امیرکبیر دانشکده برق
سیدحسین(حسام الدین) صادقی - استاد تمام دانشگاه صنعتی امیرکبیر دانشکده برق;
مرتضی کازرونی - دانشیار دانشگاه صنعتی مالک اشتر دانشکده برق و کامپیوتر

در این مقاله به بررسی روش اختلال محفظه (CPM1) که روشی متداول برای تعیین مشخصات الکترومغناطیسی مواد در بازهی فرکانسی مایکروویو میباشد، میپردازیم. این روش بر تغییر در فرکانس رزونانس و ضریب کیفیت محفظه بر اثر دخول نمونه در محل حداکثر میدان الکتریکی یا مغناطیسی، وابسته به طبیعت پارامتری که تحت مطالعه است، استوار است. مهمترین محدودیت این روش آنست که حجم نمونه باید کوچک باشد تا اثر قابل اغماضی در هندسه ی میدانهای داخل محفظه نداشته باشد. در این مقاله با ارائه روشی جدید مبتنی بر طراحی موجبر مستطیلی با درپوش متناسب با آن، که محل قرارگیری نمونه می باشد و ساخت دستگاه اندازه گیری مناسب، با حداقل کردن انواع خطاهای اندازه گیری همچون اندازه گیری با صفحه های سوراخدار با قطرهای مختلف در ابتدا و انتهای موجبر، استفاده از چسب مایع مناسب برای چسباندن نمونه بر روی درپوش موجبر و ... بیان گردیده است. برای طراحی و ساخت دستگاه اندازه گیری غیر مخرب در باندهای مختلف، ضرایب دیالکتریک و نفوذپذیری مغناطیسی مواد با درصد خطای خیلی پایین ارائه شده است. برای ارزیابی دقت روش پیشنهاد شده، مقادیر ثابت دی الکتریک و نفوذپذیری مغناطیسی چند نمونه اندازهگیری شده با مقادیر واقعی مقایسه شده و درصد خطای این روش پیشنهادی بیان شده است.

روش اختلال محفظه، فرکانس رزونانس، اندازه گیری، ثابت دیالکتریک، ضریب نفوذپذیری مغناطیسی