طراحی و توسعه یک ردیاب عکس (CdS / Si)

فیلم‌های نازک سولفید کادمیوم (CdS)  با استفاده از روش تجزیه پیرولیز پاششی شامل شیشه و ویفر Si (300 نانومتر ضخامت) و با استفاده از کادمیوم استات 2h2o(ch3coo)2cd و تیوریا ((CS (NH2)2  تهیه شدند. این ترکیبات به ترتیب به عنوان مواد کنترل یون‌های Cd+2 و S-2 استفاده می‌شوند. این فیلم‌ها در دماهای مختلف (400، 500 و 600 درجه سانتی‌گراد) بازپخت شدند. فیلم‌های با کیفیت بالا با استفاده از تجزیه و تحلیل XRD به دست آمدند. تجزیه و تحلیل پراش پرتوی X برای تمام فیلم‌های CdS با ساختار مکعب و شش ضلعی  H(002) و C(111) چند بلوری بود. تشخیص تفاوت بین آنها دشوار است، پس از افزایش درجه حرارت از 400 درجه سانتی‌گراد به 600 درجه سانتی‌گراد، قله‌های جدیدی از ساختار شش ضلعی ظاهر شد. حداکثر مقدار حساسیت‌مندی در طول موج 500 تا 560 نانومتر رخ داده است. مشاهده شده است که بهترین پاسخ طیفی زمانی اتفاق می‌افتد که دمای بازپخت شدن 500 درجه سانتی‌گراد باشد. بالاترین قله در طول موج بین 500 - 560 نانومتر به دست آمده نشانگر بزرگ‌ترین پاسخ و بیشترین بازده کمی و کیفی در تشخیص است زیرا این میزان با دمای بازپخت شدن محدود می‌شود  

کلیدواژه ها:

حساسیت‌مندی ، پیرولیز پاششی ، ورتزیت شش ضلعی ، بازده کوانتومی ، شناساگر ویژه