کنترل آسان مورفولوژی لایه های نازک WO تهیه شده به روش بخار مرطوب فراصوت
- سال انتشار: 1399
- محل انتشار: کنفرانس ملی مهندسی شیمی و نانو فناوری
- کد COI اختصاصی: CHNANO01_062
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 470
نویسندگان
دانشگاه حکیم سبزواری، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک
دانشگاه حکیم سبزواری، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک
دانشگاه حکیم سبزواری، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک
دانشگاه حکیم سبزواری، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک
دانشگاه حکیم سبزواری، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک
چکیده
دراین مقاله لایه های نازک تنگستن اکسید بر روی زیرلایه شیشه به روش بخار مرطوب فراصوت تهیه شد. در این روش اثر پارامترهای مهم مانند دمای زیرلایه (200 و 400 درجه سلسیوس) و زاویه زیرلایه (صفر و 25 درجه) بر مورفولوژی لایه ها به دقت مورد بررسی قرار گرفت. برای مطالعه مورفولوژی سطح لایه ها از تصاویر SEM استفاده گردید. بررسی تصاویر بدست آمده از میکروسکوپ الکترونی نشان داد که در سطح نمونه های تهیه شده در دمای 200 درجه سلسیوس با زاویه صفر و 25 درجه، ساختار نانوالیاف به ترتیب با قطر متوسط 320 و 400 نانومتر بدست آمده اند. ولی هنگامی که دمای زیرلاهی به 400 درجه سلسیوس رسید، ساختارهای نانوالیاف از بین رفته اند.کلیدواژه ها
تنگستن اکسید، نانوالیاف، لایه نازک، بخار مرطوب فراصوتمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.