تلفات عدم تطابق در ماژول های فتوولتائیک: مقاله مروری

  • سال انتشار: 1399
  • محل انتشار: کنفرانس ملی فناوری های نوین در مهندسی مکانیک و برق ایران
  • کد COI اختصاصی: MBCONF01_032
  • زبان مقاله: فارسی
  • تعداد مشاهده: 476
دانلود فایل این مقاله

نویسندگان

محمد امیر طاهری

دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی انرژی های تجدیدپذیر، دانشگاه تهران

چکیده

استفاده از ماژول های فتوولتائیک به منظور تولید انرژی الکتریکی از تابش خورشید، یکی از روش های رایج در استفاده از انرژی های تجدیدپذیر است. ماژول های فتوولتائیک عمدتا از نیمه هادی ها ساخته شده اند. برخورد فوتون ها به الکترون های لایه ی ظرفیتِ نیمه هادی باعث افزایش سطح انرژی و انتقال آنها به لایه ی هدایت نیمه هادی می شود. در ادامه با هدایت این الکترون ها در مسیر مشخص، میتوان جریان و توان الکتریکی تولید کرد. با اتصال چندین ماژول فتوولتائیک میتوان این توان را افزایش دارد. به منظور بهره برداری هرچه بیشتر از انرژی تابشی خورشید، لازم است انواع تلفاتی که در مسیر حرکت الکترون ها وجود دارد را به حداقل مقدار ممکن رساند. یکی از این تلفات، اتلاف بر اثر عدم تطابق است. این حالت زمانی رخ می دهد که منحنی مشخصه های دو ماژول با یکدیگر تفاوت داشته باشند. در این تحقیق به بررسی انواع حالاتی پرداخته می شود که اتلاف عدم تطابق رخ می دهد و همچنین راهکارهای کاهش این اتلاف نیز مورد بررسی قرار می گیرند.

کلیدواژه ها

اتلاف عدم تطابق، انرژی خورشیدی، ماژول فتوولتائیک، منحنی مشخصه

مقالات مرتبط جدید

اطلاعات بیشتر در مورد COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.