طیف نگاری ارتباط فوتونی
محل انتشار: اولین کنفرانس ملی علوم و فناوری نانو
سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,077
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NNTC01_418
تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1389
چکیده مقاله:
با بوجود گسترش فناوری نانو نیاز به پیشرفت روشهای انالیز دقیق که یکی از مهمترین نیازهای این علم می باشد به وجود امد. روشهای متعددی برای انالیز خواص مختلف مواد نانو وجوددارد مهمترین خاصیت مواد نانو که باید اندازه گیری شود تعیین اندازه مواد نانو می باشد که با توجه به اندازه خیلی کوچک این مواد به ابزارها و روشهای خاصی نیازمند است طیف نگاری ارتباط فوتونی در کنار میکروسکوپ های الکترونی جزء دیگر روشهایی هستند که قادر به اندازه گیری مواد با اندازه های کوچکتر از 10 نانومتر می باشند دراین مقاله به شرح روش فوق پرداخته خواهد شد.
نویسندگان
محمدحسین خزاعی
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
حبیب دانش منش
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
جلال عباسپور
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
حامد چاقروند
شیراز دانشگاه شیراز دانشکده مهندسی بخش مهندسی مواد
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :