رفتار لایه های نقص نانوئی در بلورهای فوتونی
- سال انتشار: 1389
- محل انتشار: اولین کنفرانس ملی علوم و فناوری نانو
- کد COI اختصاصی: NNTC01_086
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 1042
نویسندگان
عضو هیئت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد اهر
چکیده
دراین مقاله اثر لایه نقص در بلور فوتونی یک بعدی با بهره گیری از روش ماتریس انتقال مورد مطالعه قرار گرفته شده است نشان داده شده است که مدهای نقص جایگزیده دراین لایه جزئی متمرکز بوده است دراین کار وابستگی موقعیت این مدها به پارامترهای فیزیکی لایه نقص نظیر ثابت دی الکتریک گزارش شده است.کلیدواژه ها
مدنقص، ماتریس انتقال، مواد راستگرد، مواد چپگردمقالات مرتبط جدید
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.