بررسی ریخت شناسی لایه های نازک اکسید روی به روش سل-ژل با پایدارکننده های مختلف

سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 378

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF و WORD قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

GPPCONF02_068

تاریخ نمایه سازی: 12 اردیبهشت 1399

چکیده مقاله:

روش های کلی ساخت لایه های نازک به دو دسته روش های فیزیکی و شیمیایی تقسیم می شوند که در اینمیان روش های شیمیایی روش های ساده و مقرون به صرفه هستند که اگر به خوبی اجرا شوند می توانند تاحد خوبی قابل اعتماد باشند. سل-ژل یکی از روش های شیمیایی است که می توان لایه اکسید روی (ZnO)براحتی توسط لایه نشانی چرخشی روی سطح نشاند. تنظیم دقیق پارامترهای لایه نشانی منجر به ساخت دقیقاین لایه ها می شود. در این کار با استفاده از سه پایدار کننده ی مختلف منو، دی و تری اتانول آمین و زمان هایمتفاوت ژل شدن، لایه های ZnO با استفاده میکروسکوپ کانفوکال و طیف سنج نوری از نظر ساختار و مورفولوژی بررسی شد.

نویسندگان

سیده فهیمه حیدری ارچنگانی

دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار، ایران

حسن اله داغی

عضو هیئت علمی دانشگاه حکیم سبزواری، گروه فیزیک، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار، ایران

جواد باعدی

عضو هیئت علمی دانشگاه حکیم سبزواری، گروه فیزیک، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار، ایران

محمد زیرک

عضو هیئت علمی دانشگاه حکیم سبزواری، گروه فیزیک، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار، ایران