بررسی مورفولوژی سطح لایه های نازک نیترید مس-نقره با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال

ساختار سطح سه بعدی لایه های نازک نیترید مس نقره که به روش لایه نشانی مغناطیسی DC بروی زیرلایه های شیشه و سلیکون رشد داده شده اند، با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال مورد بررسیقرار گرفت.آنالیز فراکتال سطح نشان میدهد که سطح نانو ساختار نیترید مس-نقره در ابعاد نانو دارایژئومتری فراکتال می باشد. آنالیز فراکتال به طور کمی عوامل موثر بر زبری سطح از جمله بعد فراکتال راتعیین می نماید. در اینجا برای محاسبه بعد فراکتال از روش Envelopes Morphological استفاده می کنیم.

کلیدواژه ها:

بعد فراکتال ، نانو ذرات مس- نقره ، AFM