مشخصه یابی اپتیکی اثر نانو تخلخل در فیلتر روگیت فیلم نازک
محل انتشار: سومین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیرز ایران
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 549
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCOLE03_098
تاریخ نمایه سازی: 28 آذر 1392
چکیده مقاله:
در این مقاله اثر نانو تخلخل در SiO2 روی پهنای نوار بازتاب در فیلتر روگیت 19 لایه شامل glass/( Nb2O5 SiO2) 9 Nb2O5/Air در ناحیه مرئی بررسی شده است. با استفاده از نظریه محیط موثر، ضریب شکست موثر محاسبهو نمودارهای بازتاب، چگالی اپتیکی و شدت میدان الکتریکی در لایه ها رسم شده است. پهنای نوار بازتاب و میانگین بازتاب در طول موج 400-850نانومتر به ترتیب Δ λ=207 nm و 99.7 % تعیین شده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فاطمه ستاره
گروه فیزیک دانشگاه گیلان
فرهاد اسمعیلی قدسی
گروه فیزیک دانشگاه گیلان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :